[发明专利]利用循环伏安法侦测含金属箔的包装材缺陷的方法无效
| 申请号： | 200510112628.1 | 申请日： | 2005-10-11 |
| 公开（公告）号： | CN1948960A | 公开（公告）日： | 2007-04-18 |
| 发明（设计）人： | 张谷昇;徐诠亮 | 申请（专利权）人： | 元培科学技术学院 |
| 主分类号： | G01N27/48 | 分类号： | G01N27/48;G01N27/00 |
| 代理公司： | 中国商标专利事务所有限公司 | 代理人： | 万学堂 |
| 地址： | 台湾省*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明有关一种利用循环伏安法侦测含金属箔的包装材缺陷的方法，该方法包括在一电解槽内放置一包装袋，并在该包装袋内填入电解液，将一电极放置于该包装袋内的电解液内且另一电极放置于该包装袋外的电解槽内，藉由施加可变电压并藉此测定所诱发的电流而决定该包装为真缺陷或假缺陷。依据本发明的侦测包装缺陷的方法，可用以侦测食品包装等业界常用的习知电解试验法所无法侦测到的假缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 循环 伏安 侦测 金属 包装 缺陷 方法 | ||
【主权项】：
1.一种侦测含金属箔包装材缺陷的方法，包括在一电解槽内放置该包装材，并在该包装材内容置电解液，将一电极放置于该包装材内的电解液内且另一电极放置于该包装材外的电解槽内，藉由施加可变电压以固定扫描速率扫描并藉此测定所诱发的电流而测定该包装为是否具有穿孔缺陷。
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