[发明专利]改善芯片面积和封装引线端子数量及寄生电感的IC器件无效

专利信息
申请号: 200510113234.8 申请日: 2005-09-02
公开(公告)号: CN1770451A 公开(公告)日: 2006-05-10
发明(设计)人: 樱井祥嗣 申请(专利权)人: 夏普株式会社
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;H01L23/48;H01L23/52
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 代理人: 李玲
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明的半导体集成电路器件具有以下结构:在半导体衬底上设置的多个电路块中,对于按照彼此不是并行工作状态的第一电路块(1)和第二电路块(2)而言,共用第一电路块(1)和第二电路块(2)的GND线(G1)。而且,还电连接一个键合焊盘(PD)和GND线(G1)。因此,由于将两个电路块的GND端子设置为一个GND端子,所以就能够减少引线端子的数量。
搜索关键词: 改善 芯片 面积 封装 引线 端子 数量 寄生 电感 ic 器件
【主权项】:
1、一种半导体集成电路器件,包括在半导体衬底上设置的多个电路,其特征在于:上述多个电路包括彼此不并行工作的第一电路(1)和第二电路(2);并且该半导体集成电路器件还包括一条共用的第一电源线(G1),该第一电源线(G1)将电源电压及接地电压之一供给到在上述半导体衬底上设置的上述第一电路和上述第二电路。
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