[发明专利]陶瓷电子元件及其制造方法有效

专利信息
申请号: 200510113619.4 申请日: 2005-10-12
公开(公告)号: CN1767100A 公开(公告)日: 2006-05-03
发明(设计)人: 伊东和重;佐藤阳 申请(专利权)人: TDK株式会社
主分类号: H01G4/12 分类号: H01G4/12;H01B3/12;C04B35/468
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 邰红;邹雪梅
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供静电容量的温度特性好、IR温度依赖性低、可靠性高的陶瓷电子元件及其制造方法。本发明提供的陶瓷电子元件,其特征在于具有电介质层,其中,前述电介质层含有组成式BamTiO2+m (m是0.995≤m≤1.010、Ba与Ti的比是0.995≤Ba/Ti≤1.010)表示的主要成分,作为辅助成分的Al氧化物、Si氧化物或R的氧化物(其中R是选自Sc、Y、La、Ce、Pr、Nd、Pm、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb与Lu中的至少1种,前述Al的氧化物的至少一部分,和前述Si的氧化物或前述R的氧化物的至少一部分,形成与主要由前述主要成分构成的主相不同的2次相。
搜索关键词: 陶瓷 电子元件 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种陶瓷电子元件,其具有电介质层,其特征在于,前述电介质层含有组成式BamTi2+m表示的主要成分,该组成式中的m是0.995≤m≤1.010、Ba与Ti的比是0.995≤Ba/Ti≤1.010;和辅助成分,前述辅助成分包含Al的氧化物,和Si的氧化物或R的氧化物(其中R是选自Sc、Y、La、Ce、Pr、Nd、Pm、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb与Lu中的至少1种),前述Al的氧化物的至少一部分与前述Si的氧化物或前述R的氧化物的至少一部分,形成与主要由前述主要成分构成的主相不同的2次相,前述电介质层中包含该2次相。
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