[发明专利]相位差膜的制造方法和用该方法制造的相位差膜、以及用其的偏振片和液晶显示装置有效

专利信息
申请号: 200510113829.3 申请日: 2005-10-19
公开(公告)号: CN1766678A 公开(公告)日: 2006-05-03
发明(设计)人: 田坂公志 申请(专利权)人: 柯尼卡美能达精密光学株式会社
主分类号: G02B5/30 分类号: G02B5/30;G02F1/1335;G02F1/13363
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 张平元;赵仁临
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供改善了阻滞值的膜横向方向的分布和皂化处理的横向分布均一性的相位差膜及其制法,及使用它的偏振片和液晶显示装置。膜含有0.1~15质量%的含至少二个芳香环的阻滞上升剂,并进行拉伸处理,制造式(I)Ro=(nx-ny)×d;式(II)Rt={(nx-ny)/2-nz}×d表示的Ro为20~300nm的范围,Rt为70~400nm的范围的相位差膜的制造方法,其特征在于,使用下述(1)~(3)中的至少一个条件:(1)最大拉伸时的应力相对于断裂点应力,在50~98%的范围进行拉伸;(2)在最大拉伸时的应力绝对值为5~50MPa的范围进行拉伸;(3)在最大拉伸时的应力梯度为0.4~0.8MPa/%的范围进行拉伸制造。
搜索关键词: 相位差 制造 方法 以及 偏振 液晶 显示装置
【主权项】:
1.一种相位差膜的制造方法,该方法是含有0.1~15质量%的含有至少二个芳香环的阻滞上升剂,并且进行拉伸处理,制造下述式(1)表示的Ro为20~300nm的范围,式(II)表示的Rt为70~400nm的范围的相位差膜的方法,式(I)Ro=(nx-ny)×d式(II)Rt={(nx-ny)/2-nz}×d[式中,nx表示膜面内的折射率最大的方向的折射率、ny表示与nx成直角的方向的膜面内的折射率、nz表示膜的厚度方向的折射率,d表示膜的厚度(nm)],其特征在于,采取下述(1)~(3)的制造条件中的至少一个条件:(1)在最大拉伸时的应力相对于断裂点应力为50~98%的范围进行拉伸(2)在最大拉伸时的应力绝对值为5~50MPa的范围进行拉伸(3)在最大拉伸时的应力梯度为0.4~0.8MPa/%的范围进行拉伸。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于柯尼卡美能达精密光学株式会社,未经柯尼卡美能达精密光学株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200510113829.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top