[发明专利]一种缺陷像素检测方法有效
| 申请号： | 200510114927.9 | 申请日： | 2005-11-16 |
| 公开（公告）号： | CN1767660A | 公开（公告）日： | 2006-05-03 |
| 发明（设计）人： | 俞青;王浩 | 申请（专利权）人： | 北京中星微电子有限公司 |
| 主分类号： | H04N17/00 | 分类号： | H04N17/00;H04N5/335 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100083北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种缺陷像素检测方法，包括：建立一个缺陷像素的信息集合；建立一个判断缺陷像素及更新上述集合的规则；在使用过程中对被检测帧图像进行检测并根据所述规则来对上述缺陷像素信息集合进行更新。本发明针对传统的缺陷像素动态检测技术中，只依据单个帧图像中的像素点来进行判断而检测缺陷像素的方法进行了改进，设计并引入了相关的历史信息做为参考，从而大大提高了检测的准确性，减少了将好像素当成缺陷像素等误判情况的出现几率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 缺陷 像素 检测 方法 | ||
【主权项】：
1、一种缺陷像素检测方法，其特点在于，包括：建立一个缺陷像素的信息集合；建立一个判断缺陷像素及更新上述集合的规则；在使用过程中对被检测帧图像进行检测并根据所述规则来对上述缺陷像素信息集合进行更新。
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