[发明专利]集成电路测试方法及装置无效
| 申请号： | 200510115229.0 | 申请日： | 2005-11-11 |
| 公开（公告）号： | CN1963550A | 公开（公告）日： | 2007-05-16 |
| 发明（设计）人： | 胡光庭;张琦栋 | 申请（专利权）人： | 安国国际科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 任默闻 |
| 地址： | 台湾省*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明揭露一种低成本集成电路测试方法及装置，其是利用一PC个人计算机主机组成系统及相关软硬件以操控集成电路的测试。当测试激活时，计算机主机则驱动一装卸装置将待测的集成电路置于一测试模块上，并轮流询问与测试模块连接的测试机台状态是否正常，若无异常，则驱动测试机台对集成电路进行测试，并将测试结果正常以及异常的集成电路分类收集，完成此次测试。通过PC个人计算机主机系统操控集成电路的测试，可达到降低成本以及操控容易的功效。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种集成电路测试方法，其特征在于包含下列步骤：利用一计算机主机驱动一装卸装置将待测的所述集成电路置于一测试模块上；判断与该测试模块连接的测试机台状态是否正常，若为异常，则将该测试机台回复至可测试的状态；驱动该测试机台对测试模块上的该集成电路进行测试，并判断该集成电路是否正常；将该正常的集成电路分类收集，也将该异常的集成电路分类收集；以及判断是否继续测试，若为否，则结束本次的测试。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于安国国际科技股份有限公司，未经安国国际科技股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200510115229.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：叠层型压电元件及其制造方法
- 下一篇：一种智能加载手机硬件驱动程序的方法
