[发明专利]图形处理系统、装置及其材质数据的处理方法有效
申请号: | 200510116633.X | 申请日: | 2005-10-26 |
公开(公告)号: | CN1753035A | 公开(公告)日: | 2006-03-29 |
发明(设计)人: | 徐建明 | 申请(专利权)人: | 威盛电子股份有限公司 |
主分类号: | G06T15/20 | 分类号: | G06T15/20;G06T1/20 |
代理公司: | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 寿宁;张华辉 |
地址: | 中国*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明是有关于一种图形处理系统、装置及其材质数据的处理方法,该图形系统包括:一第一快取、一数据格式器、一第二快取、一材质过滤器先进先出内存、一材质过滤器单元、一第一测试逻辑电路、以及一逻辑电路数据表。在多快取架构中用自适应遗失数据表改进图形系统功能,这样,数据表大小随图形数据的完整性而定。 | ||
搜索关键词: | 图形 处理 系统 装置 及其 材质 数据 方法 | ||
【主权项】:
1、一种图形处理系统,能对包括多个图素的封包进行处理,该多个图素中的每一个图素相关于多个具有质素位置的质素;其特征在于该图形系统包括:一第一快取,从系统内存接收材质数据,并被分成多个槽;一数据格式器,将材质数据转换成集关联材质数据;一第二快取,接收该集关联材质数据;一材质过滤器先进先出内存,用来储存集关联材质数据;一材质过滤器单元,从材质过滤器先进先出内存接收集关联材质数据并产生与多个图素相对应的多个材质值,这样,材质过滤器单元能得到的集关联材质数据经过过滤产生多个图素的材质值;一第一测试逻辑电路,用来先在第二快取,然后在第一快取进行第二快取遗失的数据命中测试;以及一逻辑电路数据表,位于第一测试逻辑电路中,储存与命中测试有关的多个状态旗标。
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