[发明专利]有机半导体膜的图案形成方法有效

专利信息
申请号: 200510116655.6 申请日: 2003-03-06
公开(公告)号: CN1821442A 公开(公告)日: 2006-08-23
发明(设计)人: 石川贵之;榊原悌互;三浦大祐;宇野英满;小野升 申请(专利权)人: 佳能株式会社
主分类号: C23C18/00 分类号: C23C18/00;H01L51/00;C07D487/22;C07F1/08;C07F3/02;C07F3/06;C07F5/06
代理公司: 北京市金杜律师事务所 代理人: 杨宏军
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种有机半导体膜的图案形成方法,其特征为,利用印刷将至少含有二环化合物的溶液赋予到基材上所希望的位置,使二环骨架中的一部分从所述二环化合物上脱离,扩张π共轭系统,将所述二环化合物转变成有机半导体材料,由此在该基材上所选择的位置处发生逆狄尔斯-阿德尔反应,从而在基材上所希望的位置形成有机半导体膜。
搜索关键词: 有机半导体 图案 形成 方法
【主权项】:
1.一种有机半导体膜的图案形成方法,其特征为,利用印刷将至少含有二环化合物的溶液赋予到基材上的所希望的位置,使二环骨架中的一部分从所述二环化合物上脱离,扩张π共轭系统,将所述二环化合物转变成有机半导体材料,由此在该基材上所选择的位置处发生逆狄尔斯-阿德尔反应,从而在基材上所希望的位置形成有机半导体膜。
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