[发明专利]光学拾取装置及其聚焦控制方法无效
| 申请号： | 200510117049.6 | 申请日： | 2005-10-31 |
| 公开（公告）号： | CN1808586A | 公开（公告）日： | 2006-07-26 |
| 发明（设计）人： | 朴城秀;安荣万;刘长勋;洪政佑 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G11B7/09 | 分类号： | G11B7/09;G11B7/13 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 | 代理人： | 李瑞海;李云霞 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 提供了一种光学拾取装置及其聚焦控制方法，其能够确定由聚焦误差信号的串扰导致的DC偏移，基于该确定来消除该DC偏移，纠正由副光束的干涉导致的主光束的聚焦误差信号中的误差，从而能够执行最佳的聚焦跟踪。为此，该光学拾取装置包括：至少一个或多个光源；衍射光学元件，用于将来自所述光源的光衍射为多束光束；物镜，用于会聚由衍射光学元件衍射的所述多束光束；光电检测器，用于检测从盘反射的所述多束光束；和辅助光电检测器，用于检测从盘反射的所述多束光束，以执行由所述光电检测器获得的聚焦误差检测信号的误差纠正。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 拾取 装置 及其 聚焦 控制 方法 | ||
【主权项】：
1、一种光学拾取装置，包括：至少一个或多个光源；衍射光学元件，用于将来自所述光源的光衍射为多束光束；物镜，用于将由衍射光学元件衍射的所述多束光束会聚到盘上；光电检测器，用于检测从盘反射的所述多束光束；和辅助光电检测器，用于检测从盘反射的所述多束光束，以执行由所述光电检测器获得的聚焦误差检测信号的误差纠正。
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