[发明专利]一种利用声波曲线刻度法确定扩径层段地层密度的方法无效
| 申请号： | 200510117311.7 | 申请日： | 2005-11-01 |
| 公开（公告）号： | CN1959437A | 公开（公告）日： | 2007-05-09 |
| 发明（设计）人： | 李洪奇;刘俊 | 申请（专利权）人： | 中国石油大学（北京） |
| 主分类号： | G01V1/40 | 分类号： | G01V1/40 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 | 代理人： | 刘芳 |
| 地址： | 102249*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种利用声波曲线刻度法确定扩径层段地层密度的方法。该方法包括的步骤为：首先确定扩径层段和非扩径层段，接着确定刻度因子b0和b1，再根据刻度因子b0和b1确定扩径层段地层密度。采用该方法不用再选择区域参数、特别是在无法准确知道区域参数的情况下，仍然可以确定扩径层段的地层密度，同时解决了现有技术中密度测井仪测不准扩径层段地层密度的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 利用 声波 曲线 刻度 确定 扩径层段 地层 密度 方法 | ||
【主权项】：
1、一种利用声波曲线刻度法确定扩径层段地层密度的方法，其包括如下步骤：a)首先确定扩径层段和非扩径层段；b)在确定扩径层段和非扩径层段之后，确定刻度因子b0和b1；c)最后根据刻度因子b0和b1确定扩径层段地层密度。
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