[发明专利]用于测量电容的装置和传感器阵列无效
| 申请号： | 200510120155.X | 申请日： | 2005-11-09 |
| 公开（公告）号： | CN1773442A | 公开（公告）日： | 2006-05-17 |
| 发明（设计）人： | C·J·布朗 | 申请（专利权）人： | 夏普株式会社 |
| 主分类号： | G06F3/044 | 分类号： | G06F3/044 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人： | 李玲 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 提供一种电容测量装置，例如用于测量在有源矩阵液晶显示的像素电容中的变化，以提供一种“触摸屏”功能。该装置包括具有表示不同电容的多个状态的电容网络，用于将要测量的电容与所示网络的电容相比较的传感放大器，以及提供输出以指示要测量的电容是否大于网络电容的比较器。控制电路导致网络通过其状态转换，并且监视比较器的输出从而选择网络状态，该网络状态表示一个与要测量电容接进的电容。相应于由网络所表示的电容的数字测量被提供给输出并且提供对要测量电容的测量。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 电容 装置 传感器 阵列 | ||
【主权项】：
1.一种用于测量电容的装置，所述装置包括：一电容器网络，它具有呈现各个不同电容的多个状态；一传感放大器，用于将要测量的电容与所述网络的电容相比较、并用于提供一个表示所述要测量的电容是否大于所述网络的所述电容的输出；以及一控制电路，响应于所述传感放大器的所述输出以在所述网络的所述状态中进行选择、并且提供对应于所述状态的数字测量输出，在所述状态中所述网络具有一个接近所述要测量电容的电容。
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