[发明专利]半导体激光器件制造方法和半导体激光器件无效

专利信息
申请号: 200510120290.4 申请日: 2005-11-09
公开(公告)号: CN1773790A 公开(公告)日: 2006-05-17
发明(设计)人: 竹冈忠士;石仓卓郎 申请(专利权)人: 夏普株式会社
主分类号: H01S5/00 分类号: H01S5/00
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 陶凤波;侯宇
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 公开了一种半导体激光器件制造方法,依次包括:第一老化步骤S1、第一检查步骤S2、安装步骤S3、第二老化步骤S4和第二检查步骤S5。由于在半导体激光器芯片上以高温直流电流通电的第一老化步骤S1在安装步骤S3之前执行,因此能够减小安装前半导体激光器芯片的阈值电流和驱动电流。
搜索关键词: 半导体激光器 制造 方法
【主权项】:
1.一种半导体激光器件制造方法,包括:第一老化步骤,用于在不低于储存温度的设定环境温度下,使直流电流流过半导体激光器芯片一设定时间;以及安装步骤,用于安装已经进行过所述第一老化步骤的所述半导体激光器芯片。
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