[发明专利]半导体激光器件制造方法和半导体激光器件无效
申请号: | 200510120290.4 | 申请日: | 2005-11-09 |
公开(公告)号: | CN1773790A | 公开(公告)日: | 2006-05-17 |
发明(设计)人: | 竹冈忠士;石仓卓郎 | 申请(专利权)人: | 夏普株式会社 |
主分类号: | H01S5/00 | 分类号: | H01S5/00 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 陶凤波;侯宇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 公开了一种半导体激光器件制造方法,依次包括:第一老化步骤S1、第一检查步骤S2、安装步骤S3、第二老化步骤S4和第二检查步骤S5。由于在半导体激光器芯片上以高温直流电流通电的第一老化步骤S1在安装步骤S3之前执行,因此能够减小安装前半导体激光器芯片的阈值电流和驱动电流。 | ||
搜索关键词: | 半导体激光器 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种半导体激光器件制造方法,包括:第一老化步骤,用于在不低于储存温度的设定环境温度下,使直流电流流过半导体激光器芯片一设定时间;以及安装步骤,用于安装已经进行过所述第一老化步骤的所述半导体激光器芯片。
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