[发明专利]基于拼接靶的大型三维形体形貌测量拼接方法和装置无效
| 申请号： | 200510122165.7 | 申请日： | 2005-12-05 |
| 公开（公告）号： | CN1793780A | 公开（公告）日： | 2006-06-28 |
| 发明（设计）人： | 邾继贵;任同群;李艳军 | 申请（专利权）人： | 天津大学 |
| 主分类号： | G01B21/20 | 分类号： | G01B21/20;G01B11/24 |
| 代理公司： | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 | 代理人： | 刘国威 |
| 地址： | 300072*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明涉及精密测量装置。具体讲，涉及基于拼接靶的大型三维形体形貌测量拼接方法和装置。为提供不要求摄像装置有较大的景深，提高测量精度、测量速度快和效率的大型三维形体形貌测量拼接方法和装置，本发明采用的技术方案是，基于拼接靶的大型三维形体形貌测量拼接装置，设置有全局控制点、基准尺、高精度摄像装置以及测头，此外还包括放置在被测物前端的拼接靶，在拼接靶上设置有固定控制点，由前述固定控制点定义一个拼接靶坐标系OtXtYtZt，拼接靶坐标系和测头测量坐标系OmXmYmZm之间存在着通过测量拼接靶中控制点在测量坐标系OmXmYmZm中的坐标可确定的关系。本发明主要用于基于拼接靶的大型三维形体形貌测量拼接。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 拼接 大型 三维 形体 形貌 测量 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种基于拼接靶的大型三维形体形貌测量拼接装置，设置有全局控制点、基准尺、高精度摄像装置以及测头，其特征在于，还包括放置在被测物前端的拼接靶，在拼接靶上设置有固定控制点，由前述固定控制点定义一个拼接靶坐标系OtXtYtZt，拼接靶坐标系和测头测量坐标系OmXmYmZm之间存在着通过测量拼接靶中控制点在测量坐标系OmXmYmZm中的坐标可确定的关系。
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