[发明专利]紧凑型光学扫描检测系统无效

专利信息
申请号: 200510122489.0 申请日: 2005-12-21
公开(公告)号: CN1794034A 公开(公告)日: 2006-06-28
发明(设计)人: 孙杰;石明芳;孙建芳;王传永;袁跃辉;付汝廉 申请(专利权)人: 天津理工大学
主分类号: G02B26/10 分类号: G02B26/10;H04N1/00
代理公司: 天津佳盟知识产权代理有限公司 代理人: 侯力
地址: 300191天*** 国省代码: 天津;12
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种紧凑型光学扫描检测系统。解决系统结构的简化、紧凑、小型的问题。系统主要包括:光源,滤波器,转镜,f-θ透镜和光电探测器。本发明提出的紧凑型光学扫描检测系统在光学系统设计中将光学检测部分与光学扫描部分共用相同的空间,这样可以充分利用光学传输的并行性,从而可以节省了大量空间,实现了小型、紧凑的目的。本发明的主要特点是简单、实用、成本低,可广泛应用于需要作扫描测量的任何场合。
搜索关键词: 紧凑型 光学 扫描 检测 系统
【主权项】:
1、一种紧凑型光学扫描检测系统,其特征是该系统包括:光源,在其光线方向上安装有一个滤波器,用于在一个方向上透射光源输出的扫描光,在另一个方向上反射光扫描系统所需要检测的反向光;在滤波器透射光方向上安装有一个转镜,用来将滤波器透射的光源固定方向入射光反射到需要扫描的位置上,同时将对应方向反向回来的检测光反射到入射光源的固定方向,即入射扫描光的方向;在转镜反射光方向上安装f-θ透镜,f-θ透镜可以保证任何方向的入射光都可以在聚焦平面上会聚成一个点,并将聚焦平面反向回来的反应扫描结果的检测光投射到转镜上;f-θ透镜后面的聚焦平面上放置被扫描物;被扫描物反射光经转镜反射到滤波器,在滤波器所反射的光扫描系统所需要检测的反向光的方向上安装光电探测器,光电探测器将光强的强度转换为对应的电流或电压信号并由相应的电学采集系统采集并记录。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于天津理工大学,未经天津理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200510122489.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top