[发明专利]用于改进硬盘驱动器在低温下的性能的方法和设备无效
申请号: | 200510123717.6 | 申请日: | 2005-11-18 |
公开(公告)号: | CN1808572A | 公开(公告)日: | 2006-07-26 |
发明(设计)人: | 孙荣;朴鲁烈;洪敏杓 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | G11B5/012 | 分类号: | G11B5/012;G11B19/02 |
代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 | 代理人: | 郭鸿禧;李友佳 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | 本发明提供一种用于改进硬盘驱动器在低温下的性能的方法和设备。所述方法包括:测量硬盘驱动器的内部温度;检查测量的内部温度是否不高于预定临界温度;如果测量的内部温度不高于预定临界温度,则将硬盘驱动器的电机驱动预定时间,然后继续进行硬盘驱动器的内部温度的测量的操作;和如果测量的内部温度高于预定临界温度,则确定对硬盘驱动器的读/写操作是可用的。 | ||
搜索关键词: | 用于 改进 硬盘驱动器 低温 性能 方法 设备 | ||
【主权项】:
1、一种用于改进硬盘驱动器在低温下的性能的方法,所述方法包括:测量硬盘驱动器的内部温度;检查测量的内部温度是否不高于预定临界温度;如果所述测量的内部温度不高于所述预定临界温度,则将硬盘驱动器的电机驱动预定时间,并继续进行硬盘驱动器的内部温度的测量的操作;和如果所述测量的内部温度高于所述预定临界温度,则确定对硬盘驱动器的读/写操作是可用的。
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