[发明专利]用于改进硬盘驱动器在低温下的性能的方法和设备无效

专利信息
申请号: 200510123717.6 申请日: 2005-11-18
公开(公告)号: CN1808572A 公开(公告)日: 2006-07-26
发明(设计)人: 孙荣;朴鲁烈;洪敏杓 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: G11B5/012 分类号: G11B5/012;G11B19/02
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司 代理人: 郭鸿禧;李友佳
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 发明提供一种用于改进硬盘驱动器在低温下的性能的方法和设备。所述方法包括:测量硬盘驱动器的内部温度;检查测量的内部温度是否不高于预定临界温度;如果测量的内部温度不高于预定临界温度,则将硬盘驱动器的电机驱动预定时间,然后继续进行硬盘驱动器的内部温度的测量的操作;和如果测量的内部温度高于预定临界温度,则确定对硬盘驱动器的读/写操作是可用的。
搜索关键词: 用于 改进 硬盘驱动器 低温 性能 方法 设备
【主权项】:
1、一种用于改进硬盘驱动器在低温下的性能的方法,所述方法包括:测量硬盘驱动器的内部温度;检查测量的内部温度是否不高于预定临界温度;如果所述测量的内部温度不高于所述预定临界温度,则将硬盘驱动器的电机驱动预定时间,并继续进行硬盘驱动器的内部温度的测量的操作;和如果所述测量的内部温度高于所述预定临界温度,则确定对硬盘驱动器的读/写操作是可用的。
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