[发明专利]远程集成电路测试方法和装置

摘要

本发明提供了用于远程测试安装在集成电路系统中的集成电路的方法和系统。该集成电路配备有用于测试集成电路内的功能块的测试结构和被配置用于接收控制测试结构的测试向量的测试访问机制。测试向量经由远程计算机的并行端口和并行电缆被施加到集成电路系统的并行端口的引脚，所述引脚被连接到在感兴趣的集成电路中实现的测试访问机制的信号端口，从而允许在集成电路被安装在其本地系统中的同时对该集成电路执行远程测试。

主权项

1.一种用于远程控制安装在远程系统中的集成电路的方法，所述集成电路包括一个或多个功能块、被配置用于测试所述一个或多个功能块的一个或多个测试结构以及测试访问机制，该测试访问机制处理在其各个相应信号端口上接收到的测试访问机制输入向量，以控制所述一个或多个测试结构，所述方法包括以下步骤：经由计算机获得第一组测试访问机制信号向量，其中每个包含一组其各自的数据和/或控制值，这组数据和/或控制值将被施加到安装在所述远程系统中的集成电路的测试访问机制的各个相应信号端口；经由所述计算机中的第一通信接口，将所述第一组测试访问机制信号向量发送到所述远程系统中的第二通信接口，该第二通信接口执行操作，以影响所述第一组测试访问机制信号向量对所述集成电路的测试访问机制的各个相应信号端口的施加；以及经由所述计算机中的所述第一通信接口，接收第二组测试访问机制信号向量，该第二组测试访问机制信号向量包含被输出到所述集成电路的测试访问机制的各个相应信号端口上，并通过所述远程系统的第二通信接口被发送到所述计算机的第一通信接口的测试结果数据。