[发明专利]一种测试金属薄膜室温压入蠕变性能的方法无效

专利信息
申请号: 200510124587.8 申请日: 2005-12-20
公开(公告)号: CN1793824A 公开(公告)日: 2006-06-28
发明(设计)人: 黄平;王飞;徐可为 申请(专利权)人: 西安交通大学
主分类号: G01N3/28 分类号: G01N3/28;G01N3/34;G06F19/00
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 代理人: 陈翠兰
地址: 710049*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种测试金属薄膜室温压入蠕变性能的方法,采用纳米压痕仪在金属薄膜上通过控制应变率和压入深度,保载后得到位移-载荷曲线,转化为应力-应变率曲线,从而测得表征蠕变性能的应力指数,评价金属薄膜的使用稳定性。这种纳米压痕装置一方面可以精确地测量薄膜的力学性能,其载荷和位移精度分别可达到1nN和0.1nm,另一方面由于这种装置可以连续地施加应力,可以快速、有效地得到载荷-位移曲线,对试样本身无破坏性,可进行无损检测。然后通过计算得到真实应力-应变率曲线。
搜索关键词: 一种 测试 金属 薄膜 室温 压入蠕变 性能 方法
【主权项】:
1、测试金属薄膜室温压入蠕变性能的方法,其特征在于,按下述步骤进行:1)将金属薄膜镀制在刚性基体上,即通过物理气相沉积、化学气相沉积或液相沉积均匀地沉积金属薄膜,温度范围30℃-400℃,金属薄膜的厚度为80nm-20000nm之间;2)通过纳米压痕仪对金属薄膜施加载荷,压入深度小于金属薄膜厚度的1/10,固定加载应变率为0.1s-1;3)对压入后的金属薄膜保载,保载时间为100s-300s,重复10-30次;4)根据纳米压痕仪给出的位移-载荷曲线,按照公式(1)和(2)得出真实的应力-应变率曲线,求得应力指数n,给出电子薄膜的蠕变稳定性评价;ϵ·=nexp(-Q/R7)---(1)]]>ϵ·~h·/h,h(t)=hi+a(t-ti)1/2+b(t-ti)1/4+c(t-ti)1/8---(2)]]>其中和σ分别为应变率和应力,A是材料拟合系数,R为气体常数8.31J/mol·K,Q是激活能,n为应力指数,即1/m,m为蠕变敏感系数,h(t)为瞬时的压入深度,a、b和c为拟合系数。
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