[发明专利]具低电压触发双极性晶体管的静电放电防护单元无效
申请号: | 200510125295.6 | 申请日: | 2005-11-23 |
公开(公告)号: | CN1808716A | 公开(公告)日: | 2006-07-26 |
发明(设计)人: | 柯明道;李健铭 | 申请(专利权)人: | 矽統科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/02 | 分类号: | H01L27/02;H01L23/60;H02H9/00 |
代理公司: | 上海开祺知识产权代理有限公司 | 代理人: | 费开逵 |
地址: | 中国台湾新竹3*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种具低电压触发双极性晶体管(LVTBJT)的静电放电(ESD)防护单元,以有效防护集成电路的内部回路免于静电电压的冲击。该静电放电防护单元利用一检测电路,在该电源之高电压端、接地端或针脚输入/输出(I/O)端之间,有效率地触发该低电压触发双极性晶体管(LVTBJT)的触发端如一高掺杂区。当该检测电路的一触发信号触发前述低电压触发双极性晶体管(LVTBJT)的触发端时,即可降低该低电压触发双极性晶体管(LVTBJT)的阈值电压,使该低电压触发双极性晶体管的触发速度加快,以迅速释放该静电电流。 | ||
搜索关键词: | 电压 触发 极性 晶体管 静电 放电 防护 单元 | ||
【主权项】:
1.一种静电放电防护单元,提供从一I/O垫到一高电压端VDD或一低电压端VSS的静电放电路径,其特征在于:该静电放电防护单元包括连接该I/O垫的第一、第二静电放电检测电路,一N触发型低电压触发双极性晶体管装置,以及一P触发型低电压触发双极性晶体管装置;其中该N触发型低电压触发双极性晶体管装置包括连接该高电压端VDD的一射极、连接到该I/O垫的一集极、以及一N触发端连接到该第一静电放电检测电路的一输出端,且该N触发型低电压触发双极性晶体管在该I/O垫与该高电压端VDD间具有一静电时,该第一静电放电检测电路输出一高能阶输出信号至该N触发型低电压触发双极性晶体管的该N触发端,以触发并导通该N触发型低电压触发双极性晶体管;该P触发型低电压触发双极性晶体管装置包括一连接该I/O垫的一射极、一连接到该低电压端VSS的一集极、以及一P触发端连接到该第二静电放电检测电路的一输出端,且该P触发型低电压触发双极性晶体管在该I/O垫与该低电压端VSS间具有静电时,该第二静电放电检测电路输出一低能阶触发信号至该P触发型低电压触发双极性晶体管的该P触发端,以触发并导通该P触发型低电压触发双极性晶体管。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的