[发明专利]使用光偏振控制器进行偏振相关损耗和偏振度测量的设备及方法有效
| 申请号： | 200510126182.8 | 申请日： | 2005-12-01 |
| 公开（公告）号： | CN1811359A | 公开（公告）日： | 2006-08-02 |
| 发明（设计）人： | 姚晓天 | 申请（专利权）人： | 通用光讯光电技术（北京）有限公司 |
| 主分类号： | G01J4/00 | 分类号： | G01J4/00;G01N21/21 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所 | 代理人： | 廖元秋 |
| 地址： | 100089北京市海淀区长*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及使用光偏振控制器进行偏振相关损耗和偏振度测量的设备及方法，属于光学测量技术领域，本发明用偏振控制器和偏振控制器的反馈控制，通过测量光器件的偏振损耗或者通过偏振控制器的光束的偏振度系统的控制通过偏振控制器的光的偏振。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 偏振 控制器 进行 相关 损耗 测量 设备 方法 | ||
【主权项】：
1.一种设备，其特征在于，包括：偏振模块，光从偏振模块通向光介质，偏振模块根据控制信号控制其接受到的光的偏振态；光探测器，接收通过光介质传输的光并产生一个探测输出；反馈单元，反馈单元获取探测器输出并对接收到的探测器输出响应，产生控制信号控制偏振模块以调节光的偏振，使得光探测器中传输的光最大和最小。
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