[发明专利]便携式多信道光电子芯片测试信号发生装置及测试方法无效

专利信息
申请号: 200510126240.7 申请日: 2005-11-30
公开(公告)号: CN1979191A 公开(公告)日: 2007-06-13
发明(设计)人: 李运涛;陈少武;余金中 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01M11/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 段成云
地址: 100083北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种便携式多信道光电子芯片测试信号发生装置,包括键盘输入部分,输入信号缓存电路,输入输出状态指示电路,多信道光电子芯片状态选择电路,状态矩阵确认电路,多信道光电子芯片驱动电路,输出信号缓存电路以及输出信号与被测多信道光电子芯片电学接口。通过键盘输入直接指定待测多信道光电子芯片的输入/输出端口连通的路由选通信号代码,读入输入信号缓存电路,路由选通状态指示电路从缓存电路中读取数据,路由选通状态输出显示驱动信号;同时,状态矩阵确认电路,通过输出信号与被测多信道光电子芯片的接口将状态矩阵所对应的控制信息输出到多信道光电子芯片的驱动电路设定所选择信道涉及的各路由选通控制单元的工作状态。
搜索关键词: 便携式 信道 光电子 芯片 测试 信号 发生 装置 方法
【主权项】:
1.一种便携式多信道光电子芯片测试信号发生装置,其特征在于,该装置包括一组输入键盘(1)、输入输出缓存电路(2)和(4)、与输入输出显示相关的电路及设备(7)和(8)、一组多信道光电子芯片状态矩阵确定电路(3)和状态矩阵选择电路(6)、多信道光电子芯片的驱动电路(5)以及与光学参数测量相关的测量仪器(10),多信道光电子芯片(9)可以放置在专门预留的电路板上,各芯片单元的加热器通过电路板上的接口与驱动电路相连,其中,输入键盘(1)、输入输出缓存电路(2)和(4)、状态矩阵确定电路(3)、多信道光电子芯片的驱动电路(5)、多信道光电子芯片(9)、光学参数测量相关的测量仪器(10)依次顺序连接,输入输出缓存电路(2)与输入输出显示相关的电路及设备(7)和(8)依次顺序连接,状态矩阵选择电路(6)连接于状态矩阵确定电路(3)。
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