[发明专利]高精度光束同轴度调整方法

摘要

高精度光束同轴度调整方法，本发明涉及收发共用同一天线的光学系统的发射光路与接收光路的同轴度调整方法。它克服了现有方法难以满足高精度应用的需求以及不能用于大孔径天线光学系统的缺陷。本方法首先由被测光学系统的发射光路1发射激光束，激光束经分光镜2、光学天线3在长焦平行光管4的焦点处聚焦成一点像，用CCD探测器6对点像的光斑位置进行测定，由图像采集卡和计算机对点像的图像和位置数据进行接收、记录和计算；关闭1，将遮光板8小孔的中心调整到步骤一的点像光斑位置；在4的焦点位置处安装照明光源9，9通过小孔、4和2向被测光学系统的接收光路10发射光束；以步骤三中透射过分光镜2的光束为基准轴调整10。

主权项

1、高精度光束同轴度调整方法，其特征在于通过如下步骤实现：一、首先由被测光学系统的发射光路(1)发射激光束，激光束经分光镜(2)的反射和光学天线(3)的扩束后入射长焦平行光管(4)，在长焦平行光管(4)的焦点处聚焦成一点像，利用半透明屏幕(5)在长焦平行光管(4)的焦平面处对点像进行接收，用带有显微镜头(6-1)的CCD探测器(6)对点像的光斑位置进行测定，由图像采集卡(11)和计算机(7)对点像的图像和位置数据进行接收、记录和计算；二、关闭发射光路(1)，将显微镜头(6-1)前的半透明屏幕(5)换成开有小孔(8-1)的遮光板(8)，在CCD探测器(6)的监控下，将小孔(8-1)的中心调整到步骤一的点像光斑位置；三、移除CCD探测器(6)，在长焦平行光管(4)的焦点位置处安装照明光源(9)，照明光源(9)通过小孔(8-1)、长焦平行光管(4)、光学天线(3)和分光镜(2)向被测光学系统的接收光路(10)发射光束；四、以步骤三中透射过分光镜(2)的光束为基准轴调整接收光路(10)，从而使接收光路(10)与透射过分光镜(2)的光束同轴。