[发明专利]存储器测试卡具无效
| 申请号： | 200510127487.0 | 申请日： | 2005-12-09 |
| 公开（公告）号： | CN1979688A | 公开（公告）日： | 2007-06-13 |
| 发明（设计）人： | 季平;陈志丰 | 申请（专利权）人： | 英业达股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人： | 程伟 |
| 地址： | 台湾省*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种存储器测试卡具，应用在具有电性连接端的存储器的电性测量，该存储器测试卡具包括：第一连接部，具有与该电性连接端电性连接的第一导电结构；第二连接部，具有与外部装置电性连接的第二导电结构；以及测量部，与该第一连接部以及该第二连接部结合，且与该第一导电结构及第二导电结构电性连接并局部外露出该存储器测试卡具；与现有技术相比，本发明可快速、准确地对存储器电性进行测量，由于不对存储器进行操作，因此是一种安全方便的存储器测试卡具，省略了多次开机、关机以及插、拔等动作，提高测量效率，测量过程中引线极短，可将外界的干扰降到最低，本发明的测试卡具能够多次重复使用，降低了测量成本。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 测试 卡具 | ||
【主权项】：
1.一种存储器测试卡具，应用在具有电性连接端的存储器的电性测量，其特征在于，该存储器测试卡具包括：第一连接部，具有与该电性连接端电性连接的第一导电结构，在该存储器与该第一连接部连接时，该存储器与该存储器测试卡具形成电性连接关系；第二连接部，具有与外部装置电性连接的第二导电结构，借由该第二连接部，该存储器测试卡具与外部装置电性连接；以及测量部，与该第一连接部以及该第二连接部结合，且与该第一导电结构及第二导电结构电性连接并局部外露出该存储器测试卡具。
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