[发明专利]金属硅化物纳米线及其制作方法无效
申请号: | 200510127904.1 | 申请日: | 2005-12-07 |
公开(公告)号: | CN1979828A | 公开(公告)日: | 2007-06-13 |
发明(设计)人: | 顾长志;岳双林;罗强;金爱子 | 申请(专利权)人: | 中国科学院物理研究所 |
主分类号: | H01L23/48 | 分类号: | H01L23/48;H01L23/52;H01L21/28;H01L21/768 |
代理公司: | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 | 代理人: | 高存秀 |
地址: | 100080北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种金属硅化物纳米线,具有的线宽最小为7纳米。该金属硅化物纳米线的制作方法,包括在单晶硅衬底上生长一层绝缘膜,利用纳米尺度的加工技术刻蚀出用于制作金属硅化物纳米线的沟槽,采用金属溅射和蒸镀方法,在制作有纳米沟槽的硅衬底2上,沉积金属膜层4,进行高温退火使金属与沟槽底部暴露的单晶硅反应,生成金属硅化物,再采用化学腐蚀方法,腐蚀掉表面未反应的金属,在纳米沟槽内制作出分立的金属硅化物纳米线。本发明的金属硅化物纳米线具有位置、形状和线宽可控的特点,所以制备的金属硅化物纳米线可以应用于集成电路作为金属互连线,源漏和栅电极,完全可以根据实际需要进行制作。 | ||
搜索关键词: | 金属硅 纳米 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
1.一种金属硅化物纳米线,其特征在于,所述的金属硅化物纳米线包括:硅化钛纳米线、硅化镍纳米线、硅化钴纳米线、硅化钨纳米线、硅化钼纳米线和硅化铁纳米线;所述的金属硅化物纳米线的线宽为7-100纳米之间,长度在0.1-100微米之间。
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