[发明专利]用于确定在光媒体上的缺陷区域的器件和方法有效
申请号: | 200510128859.1 | 申请日: | 2005-12-07 |
公开(公告)号: | CN1815615A | 公开(公告)日: | 2006-08-09 |
发明(设计)人: | 姜锡亨 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | G11B20/18 | 分类号: | G11B20/18;G11B7/00;H03M13/00 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 邵亚丽;李晓舒 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | 本发明涉及一种器件和方法,用于通过计数光媒体(盘)上存储的数据的ECC块内的差错的数量而确定在所述光媒体(盘)上的缺陷区域。缺陷检测一般由差错计数器和比较器电路执行,它用于计数在数据的ECC块中的差错(例如奇偶差错)的发生数量,并且用于将差错的发生的计数数量与所提供的门限相比较。所述门限可以被预设为最大值以区别“可纠正的”和“不可纠正的”差错数量,或者可以被设置为更低以更好地保护所记录的数据并且改善媒体对于随后的划痕、指印等的弹性。当超过所述门限时,将所述区域确定为有缺陷。位置确定单元跟踪被查看的ECC块的位置,并且根据包含所述超过门限的多个差错数量的ECC块的位置来标记缺陷区域的位置。 | ||
搜索关键词: | 用于 确定 媒体 缺陷 区域 器件 方法 | ||
【主权项】:
1.一种光盘记录器件,包括:光学读取器,用于从盘读取数据;缺陷检测器,用于检测盘的缺陷区域,并且输出缺陷信号,包括:累加器,用于计数在数据的一个ECC块中的差错的发生数量;比较器,用于比较差错的发生数量与门限;以及数据写入器,被配置来当超过门限时,将所述缺陷区域的正确数据重写到盘的另一个区域。
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