[发明专利]用于识别局部损坏存储器的自测试方法和装置

摘要

提供了一种计算机系统，其包括具有高速缓冲存储器的处理器。该高速缓冲存储器包括多个可独立配置的子部分，每个子部分包括存储器阵列。计算系统的服务单元(SE)可被操作用于使内装自测试(BIST)被执行以便测试该高速缓冲存储器，BIST可被操作用于确定任意子部分是否为损坏的。当确定了由BIST确定损坏的高速缓冲存储器的一个子部分是不可修复的时候，该SE从系统配置中逻辑地删除该损坏子部分，并且该SE可被操作用于允许处理器在不具有所述被逻辑删除子部分的情况下运行。该SE还可被操作用于当损坏子部分的数量超过阈值时确定处理器是损坏的。

主权项

1.一种具有系统配置的计算系统，所述计算系统包括：具有高速缓冲存储器的处理器，所述高速缓冲存储器包括多个可独立配置的子部分，每个子部分包括存储器阵列；服务单元，其可被操作用于使内装自测试得以执行，以测试所述高速缓冲存储器，所述内装自测试可被操作用于确定任何所述子部分是否出现损坏，以便：(a)当所述一个子部分不可被修复，并且所述服务单元可被操作用于允许所述处理器在没有所述被逻辑删除的子部分的情况下运行之时，所述服务单元可被操作用于逻辑地删除由所述内装自测试确定为损坏的一个所述子部分，以及(b)当所述损坏子部分的数量超过阈值时，所述服务单元可被操作用于确定所述处理器为损坏的。