[发明专利]表面粗糙度测量方法和设备以及涡轮机劣化诊断方法有效
申请号: | 200510129494.4 | 申请日: | 2005-12-09 |
公开(公告)号: | CN1786660A | 公开(公告)日: | 2006-06-14 |
发明(设计)人: | 松田寿;川上宏;猪亦麻子;大友文雄;川岸裕之 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝 |
主分类号: | G01B11/30 | 分类号: | G01B11/30;F01D5/00 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人: | 王琼 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 一种表面粗糙度测量方法包括,测量待测的第一物体的表面的多个典型测点的表面粗糙度和表面彩色图像信息,并且准备标定信息,该标定信息指示出在用于表面彩色图像信息的色刺激值和表面粗糙度之间的关系。所述表面粗糙度测量方法还包括获取待测的第二物体的表面的多个测点的表面彩色图像信息,从所述测点的表面彩色图像信息获得色刺激值,利用标定信息将测点的色刺激值转换为测点的表面粗糙度,并且将待测的第二物体的测点的表面粗糙度作为表面信息显示出来。 | ||
搜索关键词: | 表面 粗糙 测量方法 设备 以及 涡轮机 诊断 方法 | ||
【主权项】:
1.一种表面粗糙度测量方法,包括:测量待测的第一物体的表面的多个典型测点的表面粗糙度和表面彩色图像信息,并且准备标定信息,该标定信息指示出在用于所述表面彩色图像信息的色刺激值和所述表面粗糙度之间的关系;和获取待测的第二物体的表面的多个测点的表面彩色图像信息,从所述测点的所述表面彩色图像信息获得色刺激值,利用所述标定信息将所述测点的所述色刺激值转换为所述测点的表面粗糙度,以及将所述待测的第二物体的所述测点的所述表面粗糙度作为表面信息显示出来。
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