[发明专利]空间调制干涉型计算层析成像光谱仪无效
| 申请号： | 200510130308.9 | 申请日： | 2005-12-09 |
| 公开（公告）号： | CN1766532A | 公开（公告）日： | 2006-05-03 |
| 发明（设计）人： | 廖宁放;林宇;赵达尊;吴文敏;方俊永;林军;贺书芳 | 申请（专利权）人： | 北京理工大学 |
| 主分类号： | G01J3/26 | 分类号： | G01J3/26;G01J3/28;G01S17/89 |
| 代理公司： | 北京理工大学专利中心 | 代理人： | 付雷杰 |
| 地址： | 100081北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种空间调制干涉型计算层析成像光谱仪。属于遥感技术领域中成像光谱仪的设计技术范畴。其主要组成结构为前置望远系统、旋转投影器、干涉光学系统，二维焦平面探测器和数据采集处理系统。干涉光学系统采用大口径投影式空间调制干涉结构，具体形式为产生等厚干涉条纹的迈克尔逊式干涉器，并用柱面(透)镜进行投影扩展。入射光经准直镜作用后成为准直光束；旋转投影器对准直光图像以一定步长进行旋转，获得不同角度的图像；干涉光学系统使从旋转投影器出射的准直光束进行干涉、投影及聚焦，在聚焦镜的像方焦平面上可以同时得到投影图像和干涉条纹；数据采集处理系统对输出的数据进行由空域到频域的变换，获得图像的光谱分布，同时经计算层析投影重建后得到光谱图案数据立方体。本发明具有高灵敏度、高光谱分辨率、高空间分辨率的特点。 | ||
| 搜索关键词： | 空间 调制 干涉 计算 层析 成像 光谱仪 | ||
【主权项】：
1.一种空间调制干涉型计算层析成像光谱仪，包括光学系统结构、焦平面探测器(7)以及数据采集处理系统(8)；其特征是：在光学系统中采用了大口径投影式空间调制干涉结构。
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