[发明专利]CMOS图像传感器的滤色器阵列及其重新形成方法无效

专利信息
申请号: 200510131914.2 申请日: 2005-12-15
公开(公告)号: CN1801494A 公开(公告)日: 2006-07-12
发明(设计)人: 车东权 申请(专利权)人: 东部亚南半导体株式会社
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146;H01L21/822
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 代理人: 余刚
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供了一种CMOS图像传感器的滤色器阵列及其重新形成方法,其中,该方法包括以下步骤:通过去除第一微透镜、第一外涂层材料图样、以及第一滤色器阵列来暴露第一盖氧化层;去除所暴露的第一盖氧化层;在半导体衬底的整个表面上形成第二盖氧化层;在第二盖氧化层上形成与单位像素阵列区相对应的第二滤色器阵列;在第二滤色器阵列上形成第二外涂层材料图样;通过选择性地蚀刻第二盖氧化层来暴露金属焊盘;以及在第二外涂层材料图样上形成第二微透镜。
搜索关键词: cmos 图像传感器 滤色器 阵列 及其 重新 形成 方法
【主权项】:
1.一种CMOS图像传感器的滤色器阵列,所述CMOS图像传感器包括:半导体衬底,被分成单位像素阵列区和焊盘区;金属焊盘,形成在所述半导体衬底的所述焊盘区中;以及第一盖氧化层、第一滤色器阵列、第一外涂层材料图样、和第一微透镜层,顺序地形成在所述单位像素阵列区中;通过去除所述第一微透镜层、所述第一外涂层材料图样、以及所述第一滤色器阵列来暴露出所述第一盖氧化层,并去除所暴露出的第一盖氧化层;所述滤色器阵列包括:第二盖氧化层,在所述半导体衬底的整个表面上形成;第二滤色器阵列,其在所述第二盖氧化层上形成,与所述单位像素阵列区相对应;第二外涂层材料图样,在所述第二滤色器阵列上形成;所述金属焊盘,其通过选择性地蚀刻所述第二盖氧化层来暴露;以及第二微透镜层,其在所述第二外涂层材料图样上形成。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于东部亚南半导体株式会社,未经东部亚南半导体株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200510131914.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top