[发明专利]一种电子磁盘的测试方法有效

专利信息
申请号: 200510135017.9 申请日: 2005-12-23
公开(公告)号: CN1988043A 公开(公告)日: 2007-06-27
发明(设计)人: 谭子求;唐新平;文海军 申请(专利权)人: 中兴通讯股份有限公司
主分类号: G11C29/00 分类号: G11C29/00;G01R31/00;G06F11/00
代理公司: 北京安信方达知识产权代理有限公司 代理人: 王漪;王继长
地址: 518057广东省深圳市南山*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种电子磁盘的测试方法,具体包括如下步骤,先对电子磁盘初始化,使电子磁盘挂入处理器系统,然后对电子磁盘进行寄存器测试;再对电子磁盘进行格式化,为读写数据做准备;初始化特定的测试数据;然后进行电子磁盘数据线测试;再进行电子磁盘地址线开路测试和地址线短路测试。所有测试完成,格式化电子磁盘,清空测试数据,退出测试流程,电子磁盘测试成功。采用本发明所述方法,对生产领域的电子线路板上的电子磁盘进行测试,保证出厂的线路板上的电子磁盘是完好的。同时找出线路板上电子磁盘焊接故障或芯片本身故障的原因,方便故障定位和排除。
搜索关键词: 一种 电子 磁盘 测试 方法
【主权项】:
1、一种电子磁盘的测试方法,包括,将电子磁盘内部分成若干页,所有页从低到高进行排列,其特征在于,还包括:步骤1、对电子磁盘进行初始化,使电子磁盘挂入处理器系统;步骤2、对电子磁盘进行寄存器测试,比较写入和读出的数据,若相同,则测试成功,进入步骤3,否则退出测试流程,电子磁盘测试失败;步骤3、对电子磁盘进行格式化,格式化通过,则进入步骤4,否则退出测试流程,电子磁盘测试失败;步骤4、初始化特定的测试数据;步骤5、进行电子磁盘数据线测试,向电子磁盘某两个页的空间读写不同的特定数据来进行测试,测试通过进入步骤6,否则退出测试流程,电子磁盘测试失败;步骤6、进行电子磁盘地址线开路测试,往特定范围的页空间写特定的数据,直到写完电子磁盘所有的页,再分别读出所有页的数据,与写入数据进行比较,若读取的值与写入值相等,则测试通过,进入步骤7,否则退出测试流程,电子测盘测试失败;步骤7、进行电子磁盘地址线短路测试,以页为单位进行移位法测试,若测试通过,则进入步骤8,否测退出测试流程,电子磁盘测试失败;步骤8、所有测试完成,格式化电子磁盘,清空测试数据,退出测试流程,电子磁盘测试成功。
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