[发明专利]一种3744点低密度校验编码方法及装置有效
| 申请号： | 200510137220.X | 申请日： | 2005-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN1996812A | 公开（公告）日： | 2007-07-11 |
| 发明（设计）人： | 朱维乐;敬龙江;顾庆水 | 申请（专利权）人： | 华为技术有限公司 |
| 主分类号： | H04L1/00 | 分类号： | H04L1/00;H03M13/11 |
| 代理公司： | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 | 代理人： | 黄志华 |
| 地址： | 518129广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种3744点低密度校验编码方法，该方法为：接收包含比特(Bit)数为3744乘以编码率的数据块；将所述数据块与(3，6)规则低密度校验编码(LDPC)的二进制校验校验矩阵进行3744点的低密度校验编码，低密度校验编码后得到具有3744比特位的数据块，其中，所述矩阵的行数为3744与所述编码率的乘积，列数为3744；输出所述具有3744比特位的数据块。本发明还同时公开了一种3744点低密度校验编码装置。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 3744 密度 校验 编码 方法 装置 | ||
【主权项】：
1、一种3744点低密度校验编码方法，其特征在于，包括如下步骤：接收包含比特(Bit)数为3744乘以编码率的数据块；将所述数据块与(3，6)规则低密度校验编码(LDPC)的二进制校验矩阵进行低密度校验编码，得到具有3744比特位的数据块，其中，所述矩阵的行数为3744与所述编码率的乘积，列数为3744；输出所述具有3744比特位的数据块。
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