[发明专利]半导体器件及其制造方法有效

专利信息
申请号: 200510138045.6 申请日: 2005-11-22
公开(公告)号: CN1822351A 公开(公告)日: 2006-08-23
发明(设计)人: 山本良明;田中幸一郎;矶部敦生;大柄根大辅;山崎舜平 申请(专利权)人: 株式会社半导体能源研究所
主分类号: H01L21/84 分类号: H01L21/84;H01L27/12;G02F1/13
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 吴立明;王忠忠
地址: 日本神*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 本发明的目的在于提供一种通过不同于专利文献1中公开的方法从衬底分离薄膜晶体管和包括该薄膜晶体管的电路或半导体器件,并将该薄膜晶体管和电路或半导体器件移位到具有柔性的衬底上的方法。根据本发明,在绝缘膜处形成了大开口或多个开口,在开口处形成了连接薄膜晶体管的导电膜,以及移除了剥离层,然后,将具有薄膜晶体管的层移位到提供有导电膜等的衬底上。根据本发明的薄膜晶体管具有通过激光照射结晶化的半导体膜,并且防止不必用激光照射的剥离层暴露在激光照射下。
搜索关键词: 半导体器件 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种半导体器件的制造方法,包括:在第一衬底上方选择性地形成剥离层;在剥离层上方形成具有多个薄膜晶体管的层;形成第一开口,使得暴露出薄膜晶体管的一部分半导体膜,并且形成第二开口,使得在剥离层之间暴露出第一衬底;在第一开口和第二开口处形成第一导电膜;处理第一导电膜以在第一开口处形成布线以及在第二开口处形成源或漏电极;形成第三导电膜,使得暴露出剥离层;将蚀刻剂引入到第三开口中并且移除剥离层以将具有多个薄膜晶体管的层与第一衬底分离;以及将具有多个薄膜晶体管的层粘贴到第二衬底上,使得提供在第二衬底上方的布线和第二导电膜相互电连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社半导体能源研究所,未经株式会社半导体能源研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200510138045.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top