[实用新型]基于整体会聚X光透镜的EXAFS谱仪无效
| 申请号： | 200520008746.3 | 申请日： | 2005-03-22 |
| 公开（公告）号： | CN2809635Y | 公开（公告）日： | 2006-08-23 |
| 发明（设计）人： | 丁训良;孙天希;刘志国 | 申请（专利权）人： | 北京师范大学 |
| 主分类号： | G01N23/20 | 分类号： | G01N23/20;G01N13/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100875*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 基于整体会聚X光透镜和位置灵敏探测器的EXAFS谱仪是由X光源、样品、平面单色器、位置灵敏探测系统以及在X光源和样品之间的整体会聚X光透镜组成，它可用来对样品进行结构分析。本实用新型的核心部件是安放在光源和样品之间整体会聚X光透镜。本实用新型的核心是通过整体会聚X光透镜与位置灵敏探测系统的合理结合，实现对样品进行空间分辨和时间分辨的EXAFS分析。同时，由于整体会聚X光透镜具有很高的放大倍数，所以，本实用新型可以利用功率较低的光源进行EXAFS分析。本实用新型结构简单，造价低廉，便于推广和普及。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 整体 会聚 透镜 exafs 谱仪 | ||
【主权项】：
1.一种基于整体会聚X光透镜的EXAFS谱仪，包括X光源、样品、平面单色器、位置灵敏探测系统，其特征在于：该谱仪还包括在X光源和样品之间加有一整体会聚X光透镜。
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