[实用新型]插入式混合集成电路老化试验插座无效
| 申请号： | 200520013610.1 | 申请日： | 2005-07-28 |
| 公开（公告）号： | CN2786818Y | 公开（公告）日： | 2006-06-07 |
| 发明（设计）人： | 曹宏国 | 申请（专利权）人： | 曹宏国 |
| 主分类号： | H01R13/639 | 分类号： | H01R13/639;H01R13/42 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 313119浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种微电子元器件老化测试装置，尤其能对双列直插电子元器件进行高温老化试验和测试的插入式混合集成电路老化试验插座。它是由插座体、接触件和紧锁装置三大部分部成。插座体用于被试器件的定位安装，接触件由中心对称和细节距多引线的两排镀金弧形接触件排列组成，与被试器件引出线相对应，并镶嵌于插座体内，锁紧装置由滑、手柄组成，当手柄受力向下翻转90°时，即使滑块产生移位，从而使接触件锁紧被试器件引出线，在高温条件下完成老化试验和测试。 | ||
| 搜索关键词： | 插入 混合 集成电路 老化试验 插座 | ||
【主权项】：
1.一种适用于插入式混合集成电路老化试验插座，其特征是：它由插座体、接触件和锁紧装置三个部分装配组成。
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