[实用新型]表面粗糙度非接触测量装置无效

专利信息
申请号: 200520044169.3 申请日: 2005-08-09
公开(公告)号: CN2814333Y 公开(公告)日: 2006-09-06
发明(设计)人: 朱青;徐文东;高秀敏;张锋;杨金涛;戴珂 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: G01B11/30 分类号: G01B11/30
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 代理人: 张泽纯
地址: 201800上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种表面粗糙度非接触测量装置,它由聚焦误差探测和控制驱动两部分组成。采用动态离焦误差检测方法,引入聚焦伺服系统,由临界角法探测到聚焦误差信号,用来控制聚焦物镜的移动,使聚焦光点始终聚焦在被测表面上,聚焦物镜的移动量反映了被测表面的高度变化。为了避免光源不均匀,及被测表面的倾角对测量的影响,采用双光路和差动技术,本实用新型大幅度提高了测量范围,可避免光源不均匀,消去了信号的畸变分量。
搜索关键词: 表面 粗糙 接触 测量 装置
【主权项】:
1、一种表面粗糙度非接触测量装置,特征在于其由聚焦误差探测和控制驱动两组成:所述的聚焦误差探测部分包括激光器(1),沿该激光器(1)的激光输出方向的第一光轴(01)上依次是准直镜(2)和偏振分光棱镜(3),该偏振分光棱镜(3)的中心(31)位于第一光轴(01)上且其入射面与第一光轴(01)垂直,通过该偏振分光棱镜(3)的中心(31)并垂直于第一光轴(01)的是第二光轴(02),在该第二光轴(02)上,同光轴地依次是第二临界角棱镜(72)、半透半反镜(6)、偏振分光棱镜(3)、四分之一波片(4)、聚焦伺服执行器(12)、会聚透镜(5)和供被测物体表面(13)承载的二维工作台(14),所述的第二临界角棱镜(72)的中心(721)、半透半反镜(6)的中心(61)位于第二光轴(02)上,过所述的第二临界角棱镜(72)的中心(721)与第二光轴(02)的垂直线上设有第二二象限光电探测器(82),其中心(821)位于所述的垂直线上,过所述的半透半反镜(6)的中心(61)并与第二光轴(02)的垂直线上,是第一临界角棱镜(71),过该第一临界角棱镜(71)的中心(711)且平行于第二光轴(02)的平行线上设有第一二象限光电探测器(81),其中心(811)位于所述的平行线上,所述的第一二象限光电探测器(81)和第二二象限光电探测器(82)的各象限均与一信号处理器(9)的输入端相接;所述的控制驱动部分由依次连接的信号处理器(9)、集成控制器(10)、聚焦伺服执行器的驱动器(11)、聚焦伺服执行器(12)和计算机(15)组成,所述的会聚透镜(5)位于聚焦伺服执行器(12)上,该聚焦伺服执行器(12)在所述的聚焦伺服执行器的驱动器(11)的驱动下带动会聚透镜(5)随被测物体表面(13)的面形而变化,该聚焦伺服执行器(12)的位置传感器的输出端与计算机(15)相连。
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