[实用新型]全自动电子元件测试装置无效
| 申请号： | 200520076975.9 | 申请日： | 2005-10-31 |
| 公开（公告）号： | CN2840062Y | 公开（公告）日： | 2006-11-22 |
| 发明（设计）人： | 梁进卿 | 申请（专利权）人： | 梁进卿 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;H01L21/66 |
| 代理公司： | 无锡市大为专利商标事务所 | 代理人： | 曹祖良 |
| 地址： | 214142江苏省无锡市新区硕*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 全自动电子元件测试装置，涉及一种电子元件的测试装置。按照本实用新型所提供的设计方案，在工作台上有允许电子元件通过的通道，其特征是：在工作台上沿通道安装导电座，在导电座上安装若干具有弹性的导电装置，在通道的上方有相互断开的导电刷。这种装置在电子元件的测试过程中，可增加检测装置对电子元件接触的时间，因而提高了测试精度，缩短了测试时间。 | ||
| 搜索关键词： | 全自动 电子元件 测试 装置 | ||
【主权项】：
1、全自动电子元件测试装置，在工作台(9)上有允许电子元件(8)通过的通道(12)，其特征是：在工作台(9)上沿通道(12)安装导电座(10)，在导电座(10)上安装若干具有弹性的导电装置(4)，在通道(12)的上方有相互断开的导电刷(7)、(14)。
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