[实用新型]激光粒度分析仪无效

专利信息
申请号: 200520087017.1 申请日: 2005-09-09
公开(公告)号: CN2824017Y 公开(公告)日: 2006-10-04
发明(设计)人: 刘文宾 申请(专利权)人: 刘文宾
主分类号: G01N15/02 分类号: G01N15/02;G01N21/51
代理公司: 济南泉城专利商标事务所 代理人: 李桂存
地址: 250100山东省济南市华龙*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 实用新型涉及一种利用激光散射测量微粒直径的激光粒度分析仪。本实用新型主要克服现有的激光粒度分析仪不能全部收集散射光、测量精度低、准确性差的不足。本实用新型包括激光器、平面反射镜、扩束镜、傅立叶变换透镜、光电池阵列、光学导轨、样品窗、循环泵和电磁阀,样品窗置于傅立叶变化换透镜与光电池阵列之间的汇聚光路上,样品窗固定不动,所述的样品窗的一侧布置有10-30个辅助探测器。具有测量精度高、准确性好、样品窗不需要移动的优点。
搜索关键词: 激光 粒度 分析
【主权项】:
1.一种激光粒度分析仪,包括激光器(1)、平面反射镜(2、3)、扩束镜(4)、傅立叶变换透镜(5)、光电池阵列(7)、光学导轨、样品窗(6)、循环泵和电磁阀,样品窗置于傅立叶变化换透镜与光电池阵列之间的汇聚光路上,其特征在于:样品窗固定不动,所述的样品窗的一侧布置有10-30个辅助探测器(8)。
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