[实用新型]电子物件的测试探针无效

专利信息
申请号: 200520104340.5 申请日: 2005-07-27
公开(公告)号: CN2809651Y 公开(公告)日: 2006-08-23
发明(设计)人: 陈志岳 申请(专利权)人: 晋恒股份有限公司
主分类号: G01R1/073 分类号: G01R1/073
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 代理人: 丁纪铁
地址: 台湾省台北市士*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 实用新型公开了一种电子物件的测试探针,该电子物件的测试探针包括:探针座,探针等部分,所述探针座一端设有与测试位移路径呈斜角对应延伸的刚性单柱型探针,各探针的一端朝待测物件斜向凸伸成探测端,各探针的另一端可电连接到相关测试仪器,当该探针的探测端随探针座滑移与待测物件的测试点接触时,利用上述斜向延伸的探针受力产生的自体弹性弯曲变形,使探测端保持弹性完全接触。本实用新型可测试间距微小的待测物件。
搜索关键词: 电子 物件 测试 探针
【主权项】:
1、一种电子物件的测试探针,其特征在于:至少包括一探针座,该探针座的一端设有一探针的探测端,所述探针相对测试位移路径呈斜角方向延伸;探针的另一端连接测试讯号线,与相关测试仪器结合。
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