[实用新型]用于电气封装体的电性测试的测试插座无效
| 申请号： | 200520106284.9 | 申请日： | 2005-08-26 |
| 公开（公告）号： | CN2881651Y | 公开（公告）日： | 2007-03-21 |
| 发明（设计）人： | 李胜源 | 申请（专利权）人： | 威盛电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/073 | 分类号： | G01R1/073;G01R31/28;H01L21/66 |
| 代理公司： | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 寿宁;张华辉 |
| 地址： | 中国*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种测试插座，适于组装在一测试电路板上，以应用于一电气封装体的电性测试，其中测试电路板具有多个测试垫，且电气封装体具有多个接点于电气封装体的一接点面，而这些接点是着一对齐线来排列，测试插座包括一绝缘本体与多个探针。绝缘本体具有一承接面，用以承接电气封装体的接点面。多个探针穿设于绝缘本体之内，用以分别作为这些接点与这些测试垫之间的电性通道，其中这些探针适于分别接触这些接点，且这些探针的至少三个相邻的探针对应于对齐线呈交错排列。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 电气 封装 测试 插座 | ||
【主权项】：
1、一种测试插座，适于组装在一测试电路板上，以应用于一电气封装体的电性测试，其中该测试电路板具有多个测试垫，且该电气封装体具有多个接点于该电气封装体的一接点面，而该些接点是着一对齐线来排列，其特征在于其中所述的测试插座包括：一绝缘本体，具有一承接面，用以承接该电气封装体的该接点面；以及多个探针，穿设于该绝缘本体之内，用以分别作为该些接点与该些测试垫之间的电性通道，其中该些探针适于分别接触该些接点，且该些探针的至少三个相邻的探针是对应于该对齐线呈交错排列。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于威盛电子股份有限公司，未经威盛电子股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200520106284.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种铁路道岔道碴清筛机
- 下一篇：汽油酒精混合燃料汽化器
