[实用新型]芯片型电容器高压筛选装置无效

专利信息
申请号: 200520142699.1 申请日: 2005-12-08
公开(公告)号: CN2853200Y 公开(公告)日: 2007-01-03
发明(设计)人: 刘兴康;曾明灿 申请(专利权)人: 伯士恩有限公司
主分类号: B07C5/344 分类号: B07C5/344;B07C5/02
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 代理人: 彭焱
地址: 台湾*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 实用新型公开了一种芯片型电容器高压筛选装置,其包括一整列定位组、一移位吸头组、一夹测组、与一分料收料组,该整列定位组可同时整列多个芯片型电容器,并通过该移位吸头组同时吸取给夹测组进行夹持测试,最后利用分料收料组根据测试结果加以分类,据此该移位吸头组在该夹测组测试芯片型电容器时,可再次吸取下一批待测试的芯片型电容器,且可同时检测多个芯片型电容器,因此可快速地筛选芯片型电容器,提高筛选机的工作效率。
搜索关键词: 芯片 电容器 高压 筛选 装置
【主权项】:
1.一种芯片型电容器高压筛选装置,用以筛选芯片型电容器(90),其特征在于,所述芯片型电容器高压筛选装置包括:一整列定位组(20),藉由所述整列定位组(20),至少一芯片型电容器(90)被整列为特定方向,并加以输送定位于一特定位置;一移位吸头组(30),所述移位吸头组(30)具有至少一吸嘴(31)与一移动机构(32),所述吸嘴(31)设于所述移动机构(32)上且所述吸嘴(31)连接有一真空发生器;一夹测组(40),所述夹测组(40)具有至少一对接夹头(41),所述对接夹头(41)分别设于一开合机构(42)的两侧,且所述对接夹头(41)连接有一测试装置,所述吸嘴(31)通过吸力吸取位于所述特定位置的芯片型电容器(90),并通过所述移动机构(32)将所述芯片型电容器(90)移至所述夹测组(40)处,同时所述对接夹头(41)通过所述开合机构(42)的移动,将芯片型电容器(90)夹制于所述对接夹头(41)上,并通过在所述测试装置对芯片型电容器(90)进行检测,产生一测试结果;一分料收料组(50),所述分料收料组(50)具有两收料盒(51)与至少一分料机构(52),且所述分料机构(52)位于所述对接夹头(41)的下方,当所述芯片型电容器(90)测试完成之后,所述对接夹头(41)放开芯片型电容器(90),让芯片型电容器(90)掉落到所述分料机构(52),所述分料机构(52)根据所述测试结果,选择所述两收料盒(51)的其中之一让所述芯片型电容器(90)落入,藉以筛选所述芯片型电容器(90)。
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