[发明专利]测试装置及测试方法有效

专利信息
申请号: 200580000297.0 申请日: 2005-07-12
公开(公告)号: CN1879027A 公开(公告)日: 2006-12-13
发明(设计)人: 菅谷智之;中山浩康 申请(专利权)人: 爱德万测试株式会社
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 代理人: 寿宁
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明测试待测设备的测试装置具有主存储器,其包括存储和从待测设备的端子依次输出的多数个输出图像依次进行比较的期待值图像列的期待值图像存储区域;测试图像输出部,其通过将多数个测试图像依次输入到待测设备,而使输出图像从待测设备中依次输出;截取部,其将所输出的输出图像依次取入到主存储器上的输出图像记忆区域;存储器读取部,其在将输出图像取入到输出图像记忆区域中的取入处理结束后,将包含所取入的多数个输出图像的输出图像列,及期待值图像列,从主存储器中读取出来;以及期待值比较部,其将所读取的期待值图像列,以及输出图像列加以比较。
搜索关键词: 测试 装置 方法
【主权项】:
1、一种测试装置,其特征在于,其是测试待测设备的测试装置,并且包括:主存储器,其包括一期待值图像存储区域,其存储和从上述待测设备的端子中依次输出的多数个输出图像依次进行比较的期待值图像列;测试图像输出部,其通过将多数个测试图像依次输入到上述待测设备中,而使输出图像从上述待测设备中依次输出;截取部,其将所输出的上述输出图像依次取入到上述主存储器上的一输出图像记忆区域中;存储器读取部,其在将上述输出图像取入到上述输出图像记忆区域中的取入处理结束后,将包含所取入的多数个输出图像的输出图像列,及上述期待值图像列,从上述主存储器中读取出来;以及期待值比较部,其将所读取的上述期待值图像列,以及上述输出图像列加以比较。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于爱德万测试株式会社,未经爱德万测试株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200580000297.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top