[发明专利]金属图形及其制造方法有效
申请号: | 200580000825.2 | 申请日: | 2005-01-13 |
公开(公告)号: | CN1843067A | 公开(公告)日: | 2006-10-04 |
发明(设计)人: | 中川徹 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
主分类号: | H05K3/06 | 分类号: | H05K3/06;B32B9/00;B32B15/04 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人: | 陈建全 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明的金属图形是在衬底表面上通过蚀刻形成的金属图形(13’),在金属图形(13’)的金属膜表面形成含有氟代烷基链(CF3(CF2)n-:n为自然数)的被吸附的单分子膜,在构成上述单分子膜的分子间渗入具有巯基(-SH)或二硫基(-SS-)的分子,从而形成遮蔽膜(18)。该金属图形是通过如下的步骤得到:在金属膜表面形成含有氟代烷基链(CF3(CF2)n-:n为自然数)的单分子膜,在上述单分子膜的表面涂布溶解了具有巯基(-SH)或二硫基(-SS-)的分子的溶液,在构成上述单分子膜的分子间渗入具有巯基(-SH)或二硫基(-SS-)的分子,从而形成遮蔽膜,使蚀刻液与上述金属膜表面接触,对没有上述遮蔽膜的金属区域进行蚀刻。 | ||
搜索关键词: | 金属 图形 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种在衬底表面上通过蚀刻形成的金属图形,其特征在于,在所述金属图形的金属膜表面形成含有氟代烷基链(CF3(CF2)n-:n为自然数)的单分子膜,使构成所述单分子膜的分子间渗入具有巯基(-SH)或二硫基(-SS-)的分子,从而形成遮蔽膜。
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