[发明专利]非接触式位移测量系统有效

专利信息
申请号: 200580001308.7 申请日: 2005-03-07
公开(公告)号: CN1898533A 公开(公告)日: 2007-01-17
发明(设计)人: M·瑟兰;F·蒙德尼科夫 申请(专利权)人: 微一埃普西龙测量技术有限两合公司
主分类号: G01D5/20 分类号: G01D5/20
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 代理人: 顾峻峰
地址: 德国奥*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 一种非接触式位移测量系统具有:一用交流电加载、具有一测量线圈(1)的传感器(2);一归属于该传感器(2)的测量物体(3),它被实施为永久磁体(4)并沿着装入在一线圈壳(5)内的测量线圈(1)无接触地移动;以及一与该传感器(2)连接的运算分析电子器件(6)。为了优化测量区域和传感器(2)结构长度之间的关系并简化测量信号的运算分析和准备,本发明非接触式位移测量系统的特征在于:测量线圈(1)至少包括两个分压抽头(7)以及一个芯(8),该芯(8)可在诸分压抽头(7)之间的一有效工作范围内部分地饱和。
搜索关键词: 接触 位移 测量 系统
【主权项】:
1.一种非接触式位移测量系统具有:一用交流电加载、具有一测量线圈(1)的传感器(2);一归属于该传感器(2)的测量物体(3),它被实施为永久磁体(4)并沿着装入在一线圈壳(5)内的测量线圈(1)无接触地移动;以及一与该传感器(2)连接的运算分析电子器件(6),其特征在于,测量线圈(1)至少包括两个分压抽头(7)以及一个芯(8),该芯(8)可在诸分压抽头(7)之间的一有效工作范围内部分地饱和。
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