[发明专利]断言产生系统及其程序、电路验证系统以及断言产生方法有效
| 申请号： | 200580001510.X | 申请日： | 2005-09-21 |
| 公开（公告）号： | CN1906619A | 公开（公告）日： | 2007-01-31 |
| 发明（设计）人： | 山田孝光 | 申请（专利权）人： | 株式会社理光 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 邵亚丽;吕晓章 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 公开了一种断言产生系统。在断言产生系统(207)中，图形编辑器(201)根据用户操作通过使用状态转换表和状态转换图对半导体集成电路的规格(无限状态机、过程序列)进行图形编辑、或者通过将过程序列编辑为时序图和时间序列图，来产生半导体集成电路的设计数据，而且语法分析器(203)和特性提取器(204)根据所述设计数据产生用于对半导体集成电路的规格进行验证的特性。断言产生器(205)将特性转换为断言描述语言(206)。 | ||
| 搜索关键词： | 断言 产生 系统 及其 程序 电路 验证 以及 方法 | ||
【主权项】：
1.一种断言产生系统，其产生用于半导体集成电路的断言验证的断言描述，该断言产生系统包括：规格输入单元，其通过根据用户操作对半导体集成电路的规格进行图形编辑，产生用于对半导体集成电路的规格进行确认的设计数据或规格和文档；第一存储单元，其将规格输入单元所产生的设计数据进行存储；特性产生单元，其通过从第一存储单元中读出由规格输入单元所产生的设计数据并且使用所读出的设计数据，来产生对半导体集成电路的规格进行验证的特性；第二存储单元，其对由特性产生单元产生的特性进行存储；以及断言产生单元，其通过从第二存储单元中读出由特性产生单元产生的特性，而将该特性转换为断言描述，其中由特性产生单元产生的特性是设计数据中与状态转换相关的选择条件、至少一个或多个信号的逻辑值或者至少一个或多个信号。
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