[发明专利]验证装置和验证方法无效
申请号: | 200580002860.8 | 申请日: | 2005-01-18 |
公开(公告)号: | CN1910588A | 公开(公告)日: | 2007-02-07 |
发明(设计)人: | 米田圭;前洋一郎;吉田久人 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50 |
代理公司: | 北京德琦知识产权代理有限公司 | 代理人: | 王琦;王诚华 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 当在待验证的对象中执行处理时,存在执行结果依赖待参考的参考数据值并且未定义的情况。当执行结果未定义,并且随后的处理参考执行结果时,执行结果可能具有不同的值。因此,不能对执行结果进行比较,并且验证不能继续。本发明提供用于给予待验证的对象和期望值产生装置相同的测试模式、用于执行仿真并比较执行结果的验证装置。仿真数据被提取。根据对所提取数据的分析结果,控制仿真。可替换地,在获得未定义结果后,控制仿真。因此,可能避免会变成未定义结果的处理的执行。 | ||
搜索关键词: | 验证 装置 方法 | ||
【主权项】:
1、一种验证装置,包括:包含至少一个处理器的电路数据单元;仿真装置;期望值产生装置;比较装置;提取装置;以及执行控制装置,其中仿真装置对电路数据单元中处理器可执行的指令执行仿真,以产生仿真结果,期望值产生装置当指令执行时产生期望值,比较装置将仿真结果与期望值进行比较,提取装置提取当期望值产生装置产生期望值时对应的信息或所产生的期望值,并且执行控制装置基于提取装置所提取的信息判断指令是否满足数据限制条件,并基于所判断的结果,控制在仿真装置和期望值产生装置中指令的执行。
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