[发明专利]超低高度的电磁干扰屏蔽外壳有效

专利信息
申请号: 200580003309.5 申请日: 2005-01-27
公开(公告)号: CN1914967A 公开(公告)日: 2007-02-14
发明(设计)人: I·维诺科;V·皮埃克哈罗;A·施拉提施曼;E·史密克;Z·A·发沃拉;G·R·英格利希 申请(专利权)人: 莱尔德技术股份有限公司
主分类号: H05K7/14 分类号: H05K7/14;H05K7/18
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 代理人: 刘佳
地址: 美国宾夕*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 一种电磁屏蔽装置包括一框架和一盖子。该框架包括诸侧壁以及多个带有向外延伸的锁销突出部的竖起的阳锁销元件。该盖子包括带有诸周边边缘部分的一大致为平面的顶部。诸插槽形成在盖子和周边边缘部分的相交处,从而诸竖起的阳锁销元件可延伸通过这些插槽并使框架与盖子锁销接合。在不同的实施例中示出了对锁销接合的多种变型。具体来说,可以实现将电磁屏蔽装置的高度减小。
搜索关键词: 高度 电磁 干扰 屏蔽 外壳
【主权项】:
1.一种用于一电磁装置的屏蔽外壳包括:一框架,该框架包括诸侧壁和一开口顶部,其中,所述诸侧壁包括诸第一锁销元件;一盖子,该盖子覆盖所述框架的所述开口顶部,所述盖子包括诸第二锁销元件以与所述诸第一锁销元件接合。
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