[发明专利]薄膜集成电路的制造方法和元件基片有效

专利信息
申请号: 200580004073.7 申请日: 2005-01-27
公开(公告)号: CN1914735A 公开(公告)日: 2007-02-14
发明(设计)人: 山崎舜平;大力浩二 申请(专利权)人: 株式会社半导体能源研究所
主分类号: H01L27/12 分类号: H01L27/12;H01L29/786;H01L21/336;G06K19/00
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 代理人: 李玲
地址: 日本神*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 用硅晶片形成的IC芯片的应用形式和需求预计会增加,且需要进一步降低成本。本发明的一个目的在于提供一种能以更低成本生产的IC芯片结构和过程。考虑到上述目的,本发明的一项特点在于提供在绝缘基片上形成分离层、并在分离层上形成具有半导体膜作为反应区的薄膜集成电路的步骤,其中不分离上述薄膜集成电路。与将芯片去除圆形硅晶片的情况相比,在使用绝缘基片的情况中对母基片的形状的限制较少。因此,可以实现IC芯片成本的降低。
搜索关键词: 薄膜 集成电路 制造 方法 元件
【主权项】:
1.一种用于制造薄膜集成电路的方法,包括以下步骤:在绝缘基片上形成分离层;在所述分离层上形成至少两个薄膜集成电路;在所述两个薄膜集成电路之间形成一凹槽以暴露所述分离层;在所述两个薄膜集成电路上附着具备开口和天线的天线基片;以及通过将蚀刻剂引入所述开口并去除所述分离层来分离所述绝缘基片,其中通过所述天线基片集成所述两个薄膜集成电路。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社半导体能源研究所,未经株式会社半导体能源研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200580004073.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top