[发明专利]薄膜集成电路的制造方法和元件基片有效
申请号: | 200580004073.7 | 申请日: | 2005-01-27 |
公开(公告)号: | CN1914735A | 公开(公告)日: | 2007-02-14 |
发明(设计)人: | 山崎舜平;大力浩二 | 申请(专利权)人: | 株式会社半导体能源研究所 |
主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12;H01L29/786;H01L21/336;G06K19/00 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人: | 李玲 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 用硅晶片形成的IC芯片的应用形式和需求预计会增加,且需要进一步降低成本。本发明的一个目的在于提供一种能以更低成本生产的IC芯片结构和过程。考虑到上述目的,本发明的一项特点在于提供在绝缘基片上形成分离层、并在分离层上形成具有半导体膜作为反应区的薄膜集成电路的步骤,其中不分离上述薄膜集成电路。与将芯片去除圆形硅晶片的情况相比,在使用绝缘基片的情况中对母基片的形状的限制较少。因此,可以实现IC芯片成本的降低。 | ||
搜索关键词: | 薄膜 集成电路 制造 方法 元件 | ||
【主权项】:
1.一种用于制造薄膜集成电路的方法,包括以下步骤:在绝缘基片上形成分离层;在所述分离层上形成至少两个薄膜集成电路;在所述两个薄膜集成电路之间形成一凹槽以暴露所述分离层;在所述两个薄膜集成电路上附着具备开口和天线的天线基片;以及通过将蚀刻剂引入所述开口并去除所述分离层来分离所述绝缘基片,其中通过所述天线基片集成所述两个薄膜集成电路。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的