[发明专利]高效低相干干涉测量无效
| 申请号： | 200580004420.6 | 申请日： | 2005-02-09 |
| 公开（公告）号： | CN1917806A | 公开（公告）日： | 2007-02-21 |
| 发明（设计）人： | 魏励志 | 申请（专利权）人： | 光视有限公司 |
| 主分类号： | A61B3/10 | 分类号： | A61B3/10;G01N21/45;G01B9/02 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 吴秋明 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 根据本申请，提出了干涉仪的实施例，除了其他优点之外，改进了偏振相关问题，并有助于防止光反射回光源中。干涉仪实施例可以包括与光源(101)耦合的隔离器(402)以及与隔离器耦合以向参考臂(104)和样品臂(105)提供光的偏振相关光学装置(403)，其中向光检测器(417，418)提供反射光，使得可以在与光检测器耦合的光信号处理器(410)中形成偏振无关光信号，并且隔离器阻止来自参考臂和样品臂的反射光进入光源。在一些实施例中，可以利用平衡检测系统来减小噪声。 | ||
| 搜索关键词： | 高效 相干 干涉 测量 | ||
【主权项】：
1.一种干涉仪，包括：光源；隔离器，耦合到光源；偏振相关光学装置，耦合到隔离器；参考臂，耦合到偏振相关光学装置；样品臂，耦合到偏振相关光学装置；和一个或多个光检测器，耦合到偏振相关光学装置，其中，偏振相关光学装置将光耦合到参考臂和样品臂中，接收来自参考臂和样品臂的反射光，并将光提供给所述一个或多个光检测器，从而可以在与所述一个或多个光检测器相耦合的光信号处理单元中形成偏振无关光信号，并且隔离器阻止来自参考臂和样品臂的反射光进入光源。
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