[发明专利]用于对封闭在介质中的目标测位的方法及测量仪有效
| 申请号： | 200580004893.6 | 申请日： | 2005-01-17 |
| 公开（公告）号： | CN1918485A | 公开（公告）日： | 2007-02-21 |
| 发明（设计）人： | 乌韦·什库尔泰蒂－贝茨;比约恩·哈泽;米夏埃尔·马勒;乌利·霍夫曼;赖纳·克拉普夫;克里斯托夫·威兰 | 申请（专利权）人： | 罗伯特·博世有限公司 |
| 主分类号： | G01V3/15 | 分类号： | G01V3/15;G01V11/00 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 曾立 |
| 地址： | 德国斯*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及用于对封闭在介质中的目标测位的方法，其中借助至少一个电容性高频传感器(60)产生一个高频的第一探测信号，该探测信号作用到待探测的介质中，使得通过第一探测信号的测量及分析处理、尤其通过电容性传感装置(60)的阻抗测量获得封闭在介质中的目标的信息。根据本发明提出：对至少一个另外的第二探测信号分析处理，以获得关于被封闭在介质中的目标的信息。此外本发明还涉及按照本发明方法的测量仪(62)。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 封闭 介质 中的 目标 测位 方法 测量仪 | ||
【主权项】：
1.用于对封闭在介质中的目标测位的方法，其中借助至少一个电容性高频传感器(60)产生一个高频的第一探测信号，该探测信号作用到待探测的介质中，使得通过第一探测信号的测量及分析处理、尤其通过电容性传感装置(60)的阻抗测量，获得封闭在介质中的目标的信息，其特征在于：对至少一个另外的第二探测信号分析处理，以获得关于被封闭在介质中的目标的信息。
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