[发明专利]缺陷管理信息设定方法、记录方法、缺陷管理方法、程序以及记录介质和信息记录装置无效
申请号: | 200580004988.8 | 申请日: | 2005-02-09 |
公开(公告)号: | CN1918656A | 公开(公告)日: | 2007-02-21 |
发明(设计)人: | 佐佐木启之 | 申请(专利权)人: | 株式会社理光 |
主分类号: | G11B20/12 | 分类号: | G11B20/12;G11B20/10;G11B20/18 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 邵亚丽;吕晓章 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 信息记录装置将数据区域分割为多个部分区域(UDA1、UDA2)(步骤303),对每个部分区域设定包含缺陷管理方式的缺陷管理信息(步骤305)。因此,将UDA1设为不进行缺陷管理的区域,将UDA2设为进行缺陷管理的区域,从而记录在UDA1中的信息被确保数据的连续性,记录在UDA2中的信息被确保数据的可靠性,可以将用途或性质互相不同的多个数据适当地记录在同一信息记录介质中。 | ||
搜索关键词: | 缺陷 管理 信息 设定 方法 记录 程序 以及 介质 装置 | ||
【主权项】:
1.一种缺陷管理信息设定方法,设定用于对信息记录介质的数据区域中的缺陷区域进行管理的缺陷管理信息,该方法包含逻辑地址连续地将所述数据区域分割为多个部分区域,对每个所述部分区域设定缺陷管理信息的步骤。
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