[发明专利]光隔离器及光学装置有效
申请号: | 200580005132.2 | 申请日: | 2005-02-23 |
公开(公告)号: | CN1922531A | 公开(公告)日: | 2007-02-28 |
发明(设计)人: | 今野良博;佐佐木胜 | 申请(专利权)人: | 并木精密宝石株式会社 |
主分类号: | G02B27/28 | 分类号: | G02B27/28 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 汪惠民 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明的目的在于提供一种,能够实现安装于放大器的光隔离器的构造简单化、小型化及低廉化,同时,使PMD和PDL降低到所希望的数值程度从而谋求特性提高的光隔离器;光隔离器由两个双折射元件、45度的法拉第转子、磁体、透镜以及全反射部件构成,通过适当地设定两个双折射元件彼此的晶轴方向和法拉第转子的旋转方向,形成将入射的无偏振的光分离为正常光线和异常光线之后,由全反射部件进行全反射并出射的往返路型的光程,将两个双折射元件中任意一个的相对于元件表面法线方向的晶轴方向和元件表面法线方向厚度进行补偿。 | ||
搜索关键词: | 隔离器 光学 装置 | ||
【主权项】:
1.一种光隔离器,其特征在于,是由无偏振的光入射的第一双折射元件、及分离为正常光线和异常光线的光入射的第二双折射元件,配置于上述两个双折射元件之间、在磁饱和时具有45度旋转角度的法拉第转子,使上述法拉第转子磁饱和的磁体,使来自上述第二双折射元件的正常光线和异常光线聚光的透镜,以及通过上述透镜的聚光使正常光线和异常光线呈点对称地全反射的全反射部件构成;所说的第一双折射元件,由从光的入射侧观察时晶轴方向彼此相差90度的第一双折射板和第二双折射板组成;从正向上的光的入射侧观察时的、所说的第一双折射板的晶轴方向,以水平方向为0度,设定为45度或135度,同时,从透过上述法拉第转子后向上述第二双折射元件传播的光的入射侧观察时的、所说的法拉第转子的旋转方向,在第一双折射板的晶轴方向为45度的情况下设定为向右旋转,在135度的情况下设定为向左旋转;从光的入射侧观察时的、所说的第二双折射元件的晶轴方向,设定为相对于上述第一双折射板的晶轴方向相差45度;入射到上述第一双折射板的无偏振的光,分离为正常光线和异常光线,进而,正常光线和异常光线入射到上述法拉第转子后偏振面旋转45度,在上述分离的光透过上述第二双折射元件时,以正常光线透过了上述第一双折射板的光以异常光线透射出来,同时,以异常光线透过了上述第一双折射板的光以正常光线透射出来,接着,正常光线和异常光线入射到上述透镜后在上述全反射部件的一点上呈点对称地进行全反射;经上述全反射部件全反射的正常光线和异常光线,按上述第二双折射元件、上述法拉第转子的顺序再度入射,最后在透过上述第二双折射板时,全反射后以正常光线透过了上述第二双折射元件的光以异常光线透射出来,同时,全反射后以异常光线透过了上述第二双折射元件的光以正常光线透射出来,进而,通过透过上述第二双折射板,具有正常光线和异常光线的光程为一致的往路及返路的光程;从上述第二双折射元件入射到上述透镜的、上述正常光线和上述异常光线的各偏振面中心与上述全反射部件的一点之间的光程长设定为相等距离;并且所说的第二双折射元件具有,为了将在上述第一双折射元件产生的正常光线和异常光线之间的分离幅度差设定为不足0.5μm、以及偏振模色散差设定为不足0.05ps所必须的、相对于元件表面法线方向的晶轴方向及元件表面法线方向厚度。
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